第九届微纳尺度材料行为国际研讨会于西安交通大学顺利召开

发表时间:2016/6/15 15:07:17

        61日至3日,第九届微纳尺度材料行为国际研讨会于西安市南洋大酒店顺利召开。本届国际研讨会由西安交通大学主办,微纳尺度材料行为研究中心及金属材料强度国家重点实验室共同承办,国际合作与交流处协办。在大会开幕式上,西安交大材料学院院长孙军教授及微纳尺度材料行为研究中心海外主任马恩教授致开幕辞,热烈欢迎远道而来的各位学者及参会人员。同时,开幕式上授予著名材料科学家、美国工程院院士、伯克利大学加州分校Robert Ritchie教授“西安交大名誉教授”称号Ritchie教授对此殊荣表示感谢,并以题为“Conflicts of strength and toughness: concepts of intrinsic vs. extrinsic toughening applied to biomaterials and advanced multi-element metallic alloys” 的精彩报告拉开了本次研讨会的序幕

名誉教授授予.png

Robert Ritchie 教授的“西安交通大学名誉教授”授予仪式现场

近年来,电子显微技术得到了令人瞩目的发展。此次大会吸引了来自全球二十多个知名大学及科研机构(包括像匹兹堡大学、悉尼大学、昆士兰大学、新南威尔士大学、尤利希研究中心、韩国科学技术院、香港大学、清华大学、浙江大学等)微纳尺度材料领域的140多位专家学者参加。本次研讨会共包括27个邀请报告及7个口头报告,诸位专家分享了微纳尺度材料行为的最新技术与成果,主题涵盖诸多材料在微纳尺度力学行为、电磁行为及使用原位电镜实时观测材料的形貌特征等前沿研究领域。

8F6B.tmp.png

马恩教授作精彩报告


ECAF.tmp.png

参会人员合影


微纳尺度材料行为研究中心海外主任马恩教授作题为“The Four Rs to Tailor GUMs and Soft Spots in Metallic Glasses for Better Deformability”的精彩报告。我们苏州德锐特成像技术有限公司,作为美国Direct Electron公司的中国独家代理商,在此次大会上由公司应用工程师高能越博士为与会人员作题为“From Scintillator-based Detector to Direct Electron Detector: High Performance of Next Generation of Camera for In-situ TEM Testing and TEM Imaging”的精彩报告,分享我们公司在电镜相机技术上的最新进展。

报告中,高博士重点介绍了DE相机相对于传统CCD相机的优势,及在微纳米尺度材料领域的重要应用。具体而言,DE相机采用的是直接电子探测技术,减少了信号损失,这极大地提高相机敏感度和分辨率,从而大幅度的提高成像质量。微纳米尺度上,科研人员除了关心材料的基本结构特征之外,更需要知道,在物理、化学作用下,材料的结构是如何发生变化? DE相机可以做到在高帧率下(可到1000+ fps)抓取高成像质量的图像,且每两帧之间无间隔时间,相当于“movie”模式观察,同时获取的每张图像作为原位数据保留输出,不放过材料变化的每个瞬间,这在原位电子显微镜领域至关重要。此外,目前很多新兴材料,像软物质材料等,对电子束高度敏感。传统的CCD需要较大的电子剂量才可以得到清晰的图像,这种情况下电子束对材料的辐照损伤严重,无法观测到样品原来的细节信息。DE相机可以做到在低电子剂量条件下高效捕获电子信息而成像,并对图像进行“辐照损伤矫正”,从而获知材料结构的细节信息。

报告也系统介绍了DE各型号相机在材料研究热点领域的多个应用实例。其中DE最新产品DE-16DE-64凭借优异的性能引起了参会人员的浓厚兴趣并踊跃提问。

  在此,感谢会务组给我们参与这个材料学盛会的机会,让我们学习了很多最新的科研成果,并了解了很多行业内的最新动态,此次西安之行,我们受益匪浅!


上一条:第一届材料微结构及性能国际会议暨第八届郭可信电子显微学暑期班顺利举行
下一条:苏州德锐特受邀参加2016年华东地区电子显微学学术会议并祝贺会议取得圆满成功!